耿本利，陈中炜，程  磊，张秀凤 （格力电器（合肥）有限公司，安徽 合肥  230088）

　　摘  要：担任器是空调的大脑，正在整机运转上起着至闭紧急的效率。担任器的质地直接决策了空调的行使寿 命。担任器正在临蓐时需模仿整机运转形态举行效力测试，测试主板上各模块电道能否平常就业，正在此基本上增 加放电电道，不但可提前筛选出效力相当的电道板，同时能保护测试工装电压错误主板举行损害，最终升高整 机的牢靠性，低落售后投诉，升高公司品牌质地。

　　各大众电等企业中，为包管整机产物本能及格，每 一单担任器都进程效力测试举行筛选，主板上的半导体 器件易受到静电、过电毁伤而导致器件效力失效。效力 测试能够筛选出正在测试岗亭前仍然失效的器件，测试工 装给主板举行供电，工装外接负载来模仿整机举行测试 各模块的运转情状。效力测试能够有用筛选出有题目的 担任器，但工装电源电压不稳、放电不彻底时也会毁伤 担任器，使得筛选症结成为过电隐患的根源。

　　测试工装内设测试板，内含强电检测电道、弱点检 测电道、驱动输出电道、感温包模仿电道、通信电道以 及与机构配合电道。操纵工装速测的式样模仿检测空调 器制冷、制热的各个线道电压、电流是否平常；同步模 拟检测过流包庇电道、过载包庇电道、低压包庇电道、 高压包庇电道、感温包电道等各个包庇电道是否平常。 遵循主板线道针对的布防工装测试点，测试点行使衔接 线与内设测试板衔接，以便到达启动工装下压主板与测试点探针接触供电，到达测试的宗旨。

　　临蓐进程中崭露众单芯片下线，从芯片失效数据看 紧要纠集为A编码和B编码芯片失效最为非常，共计占 比73%。整个妨碍明细如下。

　　折柳取妨碍品A芯片与B芯片各3单举行开封判辨， 芯片开封后，晶圆外外均存正在明明灼伤陈迹，判辨为EOS过电毁伤导致。

　　排查工装器械确认过电隐患点为工装放电不够使得二 次放电击穿芯片。通过模仿验证判辨此次相当紧要为担任 器正在效力检测进程后，显示板上C20/C15 25 V/470 μF储能 电容无法正在测试杀青后短期间内开释内部电荷，而担任 器正在周转进程中板上元器件引脚互相接触后电容器残留 电荷举行二次放电，变成芯片倏得过电而毁伤失效。

　　工装正在放电时仅接了负载举行放电，对放电成绩无 法监视。放电电道中弥补发光二极管，使放电结果目视 化，验证工装断电后，待二极管灯灭，此时电道余电测 量未胜过1 V，验证可行。同时共创立4个放电端口，可 餍足总共机型的放电需求。辨别强弱电放电，折柳针对 45 V以上电压和45 V以下电压创立分别的放电式样，杜 绝测试筑立的EOS类毁伤。

　　下外为强电端口放电结果显示外，通过端口显示检 测到的电压可有用监控放电成绩。

　　正在测试进程，员工可正在测试结局后可手动结局测 试，此时无法对放电期间举行有用监控，行使期间继电 器和中央继电器酿成互锁，操纵期间继电器担任气动头 的上升期间，即测试杀青后期间继电器就业（日常期间 继电器创立为3～5 s）3～5 s后气缸能力升起，云云板 子与放电工装充沛放电，电容的电压很小，不会对板子 带来隐患。

　　厂内临蓐线正在临蓐完显示板后直接正在后工序装注塑 件盒，大胆提出正在装完注塑件盒后举行插线测试。并 对DCT工装弥补放电回道。因有注塑件盒防护，DCT测 试完电容余电有存正在没有放完的，但不存正在担任器板相 互接触的隐患，故不会有电容余电对担任器芯片失效的 隐患。

　　改良前，正在1个月的期间，两个编码的芯片崭露8单过电失效；改良后，跟踪2个月，同款机型编码无下 线。由此可得出进程上述改良有用处置了工装放电不够 导致的芯片过电毁伤题目。

　　通过对芯片的失效判辨，确认芯片失效为过电击 穿。琢磨现有工装的测试缺陷，针对相当点举行专项攻 闭，将所测试电道遵照强、弱电举行分类，折柳安排对 应的放电电道，同时操纵发光二极管的发光道理，来实 现放电成绩的目视化监控。为确保整改有用，扑灭正在执 行进程中人工操作相当导致的奉行误差，将放电结果进 行计时，操纵期间继电器、中央继电器互锁完毕工装放 电后自愿弹起，升高测试工装放电牢靠性。

　　[1] 尹继业.对升高电子元器件的行使牢靠性的推敲[J].电子创制， 2012(10):15.

　　[2] 蒲晓明. 电子元器件的失效模子与牢靠性试验措施解析 [J]. 科 技改进与操纵，2016(08):18.

　　[3] 印晓红. 升高电子元器件行使牢靠性的手腕琢磨 [J]. 中邦高新 手艺企业，2016(04):01.

　　本文根源于科技期刊《电子产物寰宇》2020年第03期第70页，迎接您写论文时援用，并评释来历。